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平移式微焦CT检测装置在线检测电子元件的方法

专利号:CN201210065306.6

行业:物理

专利类型:发明专利

交易状态: 未成交

专利状态: 暂无

交易方式: 议价

所在地: 暂无

专利简介

本发明公开了一种平移式微焦CT检测装置在线检测电子元件的方法,检测开始后,射线产生装置产生的锥形射线束对电子元件进行扫描,射线探测及数据采集装置获得射线投影数据,然后传送给控制及图像处理系统成像,包括数字式辐射成像DR和计算机层析成像CT。计算机层析成像时,根据平移式锥束射线扫描获得的不完全投影数据,采用本发明提出的基于子区域平均化和总变差最小化的平移式锥束CT迭代重建算法重建CT图像,可获得高质量三维CT图像。本发明用于对生产线上的电子元件进行高精度在线检测,可对电子元件的内外结构进行放大DR成像和三维

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