主要功能
1. 广角测量 2. 小角测量 3. 薄膜测量 4. 高温测量
技术指标
广角扫描: 2θ: 3°～140° 小角扫描: 2θ: 0.8°～ 8° 薄膜掠射扫描: θ: 0.6°～ 10° 2θ: 1°～140° 温度范围: 室温 ～ 1000℃
服务内容
可进行物相的定性与定量分析，晶体结构、晶胞参数、晶粒大小分析；对金属样品进行极图和应力分析，对纳米级薄膜进行物相分析等。
1. 广角测量 2. 小角测量 3. 薄膜测量 4. 高温测量
广角扫描: 2θ: 3°～140° 小角扫描: 2θ: 0.8°～ 8° 薄膜掠射扫描: θ: 0.6°～ 10° 2θ: 1°～140° 温度范围: 室温 ～ 1000℃
可进行物相的定性与定量分析，晶体结构、晶胞参数、晶粒大小分析；对金属样品进行极图和应力分析，对纳米级薄膜进行物相分析等。
