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       压阻效应是半导体晶体材料在某一方向受力产生形变时材料的电阻率发生变化的现象。利用该效应制作的应变片即为半导体应变片。半导体应变片可以粘贴在试件上测量试件的应变或粘贴在弹性敏感元件上间接地感受被测外力。半导体应变片与电阻应变片相比，具有灵敏系数高（约高50~100倍）、机械滞后小、体积小、耗电小等优点。在测量微小应变（10微应变左右）的场合具有不可替代的作用。但是由于半导体应变片的电阻温度系数及灵敏系数温度系数较大，导致半导体应变片在使用时必须进行温度补偿。现希望当半导体应变计的工作环境温度变化较大时，可以对热零点漂移和热灵敏度漂移同时补偿。

发布时间：2018-04-22

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